什么是边界扫描? 边界扫描（Boundary Scan）是一种用于测试和诊断集成电路（IC）的技术。它通过在IC的边界上添加一组专门的测试逻辑电路，使得IC在工作时可以被动地进行测试和诊断。边界扫描技术最早由美国电子工程师协会（IEEE）提出，并在1985年成为IEEE标准1149.1，通常被称为JTAG（Joint Test Action Group）标准。 JTAG边界扫描测试方案介绍 JTAG边界扫描测试方案是一种基于边界扫描技术的测试方法，用于验证和测试电子设备中的集成电路。它通过在I

JTAG接口：连接硬件与软件的桥梁 JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。JTAG接口不仅可以用于测试和调试，还可以用于编程和配置集成电路。JTAG接口已成为连接硬件和软件的重要桥梁。 JTAG接口接线图 以下是JTAG接口的接线图：  JTAG接口包括四条信号线：TCK、TMS、TDI和TDO。其中，TCK是时钟信号线，TMS是状态信号线，

微处理器和板上JTAG逻辑的并行接口是现代电子设备中常见的连接方式之一。该接口允许微处理器与板上的JTAG逻辑进行通信和控制，为系统调试、测试和编程提供了便利。本文将探讨微处理器与板上JTAG逻辑相互连系的并行接口的研究。 微处理器与JTAG逻辑的概述 微处理器是现代计算机系统中的核心组件，负责执行各种指令和处理数据。JTAG（Joint Test Action Group）逻辑是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。微处理器和JTAG逻辑之间的连接通常由并行接口实现。 并行接口的工作原理 并

JTAG和SWD的介绍 JTAG（Joint Test Action Group）和SWD（Serial Wire Debug）都是用于调试和测试嵌入式系统的接口标准。JTAG是一种并行接口，而SWD是一种串行接口。JTAG是一种通用接口，可以用于测试和调试不同类型的芯片，而SWD则是为ARM Cortex-M芯片设计的。 JTAG和SWD的原理 JTAG接口是由四条线组成的，包括TCK、TMS、TDI和TDO。TCK是时钟线，TMS是状态线，TDI是数据输入线，TDO是数据输出线。JTAG接

JLINK、JTAG、ULINK和STLINK的区别介绍 介绍 在嵌入式系统开发中，常常需要使用调试工具来进行调试和测试。其中，JLINK、JTAG、ULINK和STLINK是广泛使用的四种调试工具。本文将介绍它们的区别和特点。 1. 工作原理 JLINK、JTAG、ULINK和STLINK都是通过调试接口与目标设备进行通信的。其中，JLINK和ULINK使用的是J-Link和ULINK芯片，而STLINK使用的是STM32芯片。这些芯片都支持JTAG和SWD两种调试协议。 2. 支持的芯片

什么是JTAG接口？ JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于连接芯片和测试设备的标准接口。它最初是为了方便集成电路的测试而设计的，但现在已经广泛应用于硬件调试和调试工具的开发中。JTAG接口由4或5个信号线组成，包括TCK（时钟）、TMS（状态）、TDI（数据输入）、TDO（数据输出）和nTRST（可选）。 JTAG接口的优点 JTAG接口有许多优点，其中最显著的是它可以通过单个接口访问芯片内部的所有测试和调试功能。这意味着可以使用JTAG接口进行硬件调试，而

1. 什么是JTAG JTAG是英文Joint Test Action Group的缩写，中文翻译为联合测试行动组。它是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。JTAG接口由IEEE 1149.1标准定义，主要用于测试和调试电子设备中的逻辑芯片。 2. JTAG的基本原理 JTAG接口通过在芯片上添加专门的测试电路，实现对芯片内部逻辑电路的访问和控制。这些测试电路包括一个测试状态机（TAP）和一组辅助寄存器。TAP负责控制测试过程，而辅助寄存器用于存储测试数据和控制信号。 3. JTAG